本成果包括坏道位缓冲技术、坏道速率跟踪技术和反向寻道技术，将FPGA数据处理芯片与ARM控制芯片结合，形成了TB级缺陷介质的数据擦除设计原则与方法。本成果采用UDMA133设计，通过坏道位图缓冲技术、正向寻道保证快速擦除数据，提高了对硬盘的擦除速度，符合美国DOD的7次安全数据销毁/数据擦除标准，可实现隐藏数据和缺陷介质的有效快速擦除。本成果已获得国家发明专利3件，取得软件著作权1件，获得四川省专利三等奖。